1)專利規(guī)避設(shè)計(jì)的具體任務(wù)并不是規(guī)避知識(shí)產(chǎn)權(quán),而是讓工業(yè)設(shè)計(jì)者采取其他的解決方案,規(guī)避其他人某專利的某一項(xiàng)專利權(quán),如采用全新的產(chǎn)品外觀設(shè)計(jì)等。
2)在專利規(guī)避設(shè)計(jì)過(guò)程中,雖然設(shè)計(jì)者對(duì)發(fā)明或設(shè)計(jì)進(jìn)行了不同程度的變形,其實(shí)除了非常簡(jiǎn)單的模仿存在侵權(quán),非常簡(jiǎn)單的變形設(shè)計(jì)滿足等同侵權(quán)自然也會(huì)落入權(quán)利人專利權(quán)的保護(hù)范圍。
在專利侵權(quán)訴訟的分析程序中,最先做的是全覆蓋原則辨別,當(dāng)侵犯版權(quán)專利包含原專利的全部技術(shù)特點(diǎn)時(shí),構(gòu)成侵權(quán);當(dāng)侵犯版權(quán)專利落入等同侵權(quán)范圍內(nèi),表明專利上存在相同原理或結(jié)構(gòu)的技術(shù)特點(diǎn),此時(shí)就需要對(duì)專利進(jìn)行技術(shù)架構(gòu)截剪,截剪部分技術(shù)特點(diǎn),從而避免落入全覆蓋原則和等同侵權(quán)的范疇。
3)在研究相關(guān)技術(shù)特征后,通常是進(jìn)行相關(guān)專利的檢索和分析找出規(guī)避對(duì)象,找到了有巨大侵權(quán)風(fēng)險(xiǎn)的高效專利文件,找出最為關(guān)心的競(jìng)爭(zhēng)者關(guān)鍵技術(shù)專利,對(duì)該目標(biāo)專利文件內(nèi)容專利申請(qǐng)書(shū)中的從屬權(quán)利要求進(jìn)行細(xì)化和功能分析。
4)在創(chuàng)建侵權(quán)產(chǎn)品的性能分析后,在此數(shù)據(jù)基礎(chǔ)上,再度分析該專利的功效、結(jié)構(gòu)以及組件和相應(yīng)的專利權(quán)利,找出侵權(quán)點(diǎn)和設(shè)計(jì)的創(chuàng)新之處,對(duì)相關(guān)某些可能構(gòu)成侵權(quán)的特點(diǎn)進(jìn)行截剪、優(yōu)化、替換等,進(jìn)行產(chǎn)品的概念設(shè)計(jì)。
5)找出截剪后的概念設(shè)計(jì)中的重要各個(gè)領(lǐng)域技術(shù)沖突和各個(gè)領(lǐng)域物理矛盾,將它們轉(zhuǎn)化為標(biāo)準(zhǔn)矛盾,根據(jù)矛盾矩陣等工具找到不同的解決方案。
6)應(yīng)用專利侵權(quán)判定原則對(duì)詳盡的概念規(guī)劃方案進(jìn)行專利侵權(quán)訴訟分析,辨別可否侵權(quán)。要是侵權(quán),則輸出詳細(xì)說(shuō)明設(shè)計(jì)方案;一旦侵權(quán),則仍需功能截剪。
分析以上規(guī)避設(shè)計(jì)方案。
我們致力于產(chǎn)品外觀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),包括后期模具設(shè)計(jì),產(chǎn)品組裝等一系列流程提技術(shù)服務(wù)。
產(chǎn)品開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)中,將設(shè)計(jì)和生產(chǎn)融為一體,從立項(xiàng)到生產(chǎn)我們都有著豐富的產(chǎn)品落地案例經(jīng)驗(yàn),包括概念設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、工裝夾具設(shè)計(jì),生產(chǎn)工藝規(guī)劃等,因此對(duì)項(xiàng)目成本控制以及對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量把控頗有心得,耿巨工業(yè)以打造更好的產(chǎn)品為核心內(nèi)容,為企業(yè)提供專業(yè)系統(tǒng)化建議和處理方案。
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